Banner
Banner
Home Atividades Tutoriais TF-Caracterização de materiais pelo método de Rietveld e Scarlett-Madsen
TF-Caracterização de materiais pelo método de Rietveld e Scarlett-Madsen

Coordenador: Carlos O. Paiva-Santos
Laboratorio Computacional de Análises Cristalograficas e Cristalinas - LabCACC, Instituto de Química - UNESP

O método de Rietveld (Rietveld, 1969) é muito interessante para a caracterização da estrutura cristalina de fases presentes em materiais policristalinos. Ele é usado para a averiguação de pequenas modificações na estrutura cristalina ocorridas após algum tipo de tratamento, como dopagem, aquecimento, moagem, etc. Ele também é interessante para análise quantitativa de fases sem a necessidade de um padrão interno, a menos que a quantidade de amorfo seja requerida. Para a aplicação do método, é necessário que a estrutura cristalina de cada fase seja conhecida, assim como dados de difração de raios X ou nêutrons por policristais. Quando a estrutura cristalina de uma ou mais fases não é conhecida, um método similar, desenvolvido por Nicole Scarlett e Ian Madsen (Scarlett, Madsen 2006) (método de Scarlett-Madsen) fpode ser aplicado. Nesse caso é requerida uma amostra de calibração, a qual contém quantidades conhecidas da fase de estrutura desconhecida com um padrão, para a determinação de uma constante denominada “constante de fase”. Após isso, o método pode ser usado da mesma maneira que o método de Rietveld. O método de Scarlett-Madsen é muito interessante para o caso de caracterização de polimorfos de fármacos quando a estrutura cristalina é apenas parcialmente conhecida, o que é muito comum no universo de drogas usadas pelas indústrias farmacêuticas. No tutorial iremos apresentar os dois métodos na caracterização de óxidos e polimorfos policristalinos de fármacos.

Rietveld, H. M. (1969). "A Profile Refinement Method for Nuclear and Magnetic Structures." Journal of Applied Crystallography 2: 65-71.

Scarlett, N. V. Y. and I. C. Madsen (2006). "Quantification of phases with partial or no known crystal structures." Powder Diffraction 21(4): 278-284. 

 


Ministrantes:
Carlos de Oliveira Paiva Santos 
Fabio Furlan Ferreira (Laboratório Nacional de Luz Síncrotron)


Tempo estimado: 04:00hs
Número mínimo de participantes: 10
Número máximo de particiantes:150